薄膜材料該如何測量？厚度小於1微米的膜材料，被稱為薄膜材料，我們要想測量它的厚度，可以使用光學測厚儀。下面筆者給大家介紹一下深圳市大成精密裝置股份有限公司的光學干涉測厚儀，諸位可以透過典型應用、測量原理、產品效能/引數、測量特點四方面來充分了解它。
一、典型應用
光學膜塗布、太陽能晶圓、超薄玻璃、膠帶、Mylar膜、OCA光學膠、光阻等測量。應用在塗膠工序時，該裝置可放置於塗膠池後、烘箱前，線上測量塗膠的厚度；也可以線上測量離型膜塗布的厚度。其精度極高，應用甚廣，尤其適合厚度要求達到奈米級的透明多層物體的厚度測量。
二、測量原理
利用紅外光穿透物質時的吸收、反射、散射等效應實現無損非接觸式測量薄膜類材料的厚度。
三、產品效能、引數
測量範圍：0。1um~100um
測量精度：0。4%
測量重複性：±0。4nm（3a）
波長範圍：380nm~1100nm
響應時間：5~500ms
測量光斑：1mm~30mm
動態掃描測量重複性：10nm
四、測量特點
1、線上實時掃描測量薄膜的厚度，實時反映生產過程中薄膜的厚度趨勢，幫助調節生產裝置，實現更穩定一致的生產；
2、可輸出橫向縱向趨勢圖、最大值、最小值、極差、CPK等統計引數；
3、高精密厚度測量，重複精度達0。4nm；
4、可同時檢測多層材料厚度；
5、適用於光滑表面透明膜厚度測量。
總體而言，大成精密的光學干涉測厚儀精確度高，支援檢測多種薄膜材料，可快捷輸出統計引數，能幫助薄膜材料生產廠家大大提高檢測速度、生產效率，因此如需進購該裝置，廠家們可登入大成精密官方網站，與客服詳談。
大成精密成立於2011年，如今經過十年的高速發展，他們已經成為集研發、生產、銷售、服務於一體的鋰電池生產裝置方案供應商，一直專注於鋰電檢測和裝置生產。在產品生產上，大成精密多年來一直堅持“讓客戶滿意”的核心價值觀，始終奉行產品質量高於一切的原則，嚴格依據ISO9001質量管理體系要求，透過品質管控流程輸出穩定可靠的大成裝置，為廣大一線鋰電池生產企業提供堅實可靠的檢測保障。
