超逼真動圖解析SEM, 紅外,紫外,核磁,質譜,TEM,ICP等常用15大分析測試儀器,必收藏!!!
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EELS原理圖掃描電子顯微術 SEM分析原理:用電子技術檢測高能電子束與樣品作用時產生二次電子、背散射電子、吸收電子、X射線等並放大成象譜圖的表示方法:背散射象、二次電子象、吸收電流象、元素的線分佈和麵分佈等提供的資訊:斷口形貌、表面顯微結...

X射線內部探傷檢測效果顯著
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X射線內部探傷檢測效果顯著

日聯科技X射線實時成像檢測儀配置高階,採用封閉式光管、數字平板探測器、操控臺、以及自主開發的高效能資料採集及影象處理系統,獲取材料內部結構影象,透過大資料深度學習智慧檢測工具,自動獲取影象資訊進行分析處理,對合格品和不良品進行分類處理...