科技長鑫儲存公開“半導體結構製作方法”等2項專利集微網訊息(文/陳薇)6月17日,據天眼查App顯示,長鑫儲存技術有限公司公開申請的2項專利,包括“半導體結構的製作方法及半導體結構”、“儲存晶片的測試方法、裝置、裝置及儲存介質”...日期:2022-06-20TAG: 儲存晶片結構待測半導體基底